Išplėstinė paieška
 
 
 
Pradžia>Fizika>Elektromagnetizmas>Silicio plokštelės savitosios paviršinės varžos matavimas keturių zondų metodu
   
   
   
naudingas 0 / nenaudingas 0

Silicio plokštelės savitosios paviršinės varžos matavimas keturių zondų metodu

  
 
 
12
Aprašymas

Darbo tikslas: išmatuoti silicio plokštelės savitąją paviršinę varžą. Darbo schema. Darbo eiga. Išvados. Atsakymai į klausimus.

Rašto darbo duomenys
Tinklalapyje paskelbta2007-06-23
DalykasElektromagnetizmo laboratorinis darbas
KategorijaFizika >  Elektromagnetizmas
TipasLaboratoriniai darbai
Apimtis2 puslapiai 
Literatūros šaltiniai0
Dydis27.13 KB
Autoriusrawas
Viso autoriaus darbų13 darbų
Metai2003 m
Klasė/kursas2
Failo pavadinimasMicrosoft Word KT 5 2sem [speros.lt].doc
 

Komentarai

Komentuoti

 

 
[El. paštas nebus skelbiamas]

 
 
Ar šis darbas buvo naudingas?
Taip
Ne
0
0
Pasidalink su draugais
Pranešk apie klaidą