Šperos.lt > Fizika > Elektromagnetizmas > Bandinio paviršiaus tyrimas Rentgeno fotoelektronų spektrometru

Bandinio paviršiaus tyrimas Rentgeno fotoelektronų spektrometru

www.speros.ltwww.speros.ltwww.speros.ltwww.speros.ltwww.speros.lt
9.5
  (
2
atsiliepimai)
Atsisiųsti šį darbą
www.speros.lt
www.speros.lt
www.speros.lt
www.speros.lt
www.speros.lt
www.speros.lt
Aprašymas:
Darbo užduotis: Susipažinti su Rentgeno fotoelektroninės spektroskopijos (XPS X-ray photoelectron spectroscopy) metodu, Rentgeno fotoelektroniniu spektrometru XSAM Kratos Analytcal nustatyti tiriamojo bandinio kokybinę sudėtį.
Rodyti daugiau
Darbo tipas:Laboratoriniai darbai
Kategorija:
Apimtis:

3 psl.

Lygis:

1 klasė / kursas

Švietimo institucija:

Kauno Technologijos Universitetas

Failo tipas:

Microsoft Word 29.22 KB

Atrask reikiamos informacijos šiame darbe!Atsisiųsti šį darbą