Išplėstinė paieška
 
 
 
Pradžia>Fizika>Elektromagnetizmas>Bandinio paviršiaus tyrimas Rentgeno fotoelektronų spektrometru
   
   
   
naudingas 0 / nenaudingas 0

Bandinio paviršiaus tyrimas Rentgeno fotoelektronų spektrometru

  
 
 
1234
Aprašymas

Darbo užduotis: Susipažinti su Rentgeno fotoelektroninės spektroskopijos (XPS X-ray photoelectron spectroscopy) metodu, Rentgeno fotoelektroniniu spektrometru XSAM Kratos Analytcal nustatyti tiriamojo bandinio kokybinę sudėtį.

Rašto darbo duomenys
Tinklalapyje paskelbta2005-12-19
DalykasElektromagnetizmo laboratorinis darbas
KategorijaFizika >  Elektromagnetizmas
TipasLaboratoriniai darbai
Apimtis3 puslapiai 
Literatūros šaltiniai0
Dydis29.22 KB
AutoriusTomas
Viso autoriaus darbų1 darbas
Metai2005 m
Klasė/kursas1
Mokytojas/DėstytojasG. Laukaitis
Švietimo institucijaKauno Technologijos Universitetas
Failo pavadinimasMicrosoft Word xps [speros.lt].doc
 

Komentarai

Komentuoti

 

 
[El. paštas nebus skelbiamas]

 
 
  • Laboratoriniai darbai
  • 3 puslapiai 
  • Kauno Technologijos Universitetas / 1 Klasė/kursas
  • G. Laukaitis
  • 2005 m
Ar šis darbas buvo naudingas?
Taip
Ne
0
0
Pasidalink su draugais
Pranešk apie klaidą