Įkelti darbą
Šperos.lt
> Fizika
> Elektromagnetizmas
> Bandinio paviršiaus tyrimas Rentgeno fotoelektronų spektrometru
Bandinio paviršiaus tyrimas Rentgeno fotoelektronų spektrometru
9.5
(
2
atsiliepimai)
Atsisiųsti šį darbą
Aprašymas:
Darbo užduotis: Susipažinti su Rentgeno fotoelektroninės spektroskopijos (XPS X-ray photoelectron spectroscopy) metodu, Rentgeno fotoelektroniniu spektrometru XSAM Kratos Analytcal nustatyti tiriamojo bandinio kokybinę sudėtį.
Rodyti daugiau
Darbo tipas:
Laboratoriniai darbai
Kategorija:
Fizika
,
Elektromagnetizmas
Apimtis:
3 psl.
Lygis:
1 klasė / kursas
Švietimo institucija:
Kauno Technologijos Universitetas
Failo tipas:
29.22 KB
Atrask reikiamos informacijos šiame darbe!
Atsisiųsti šį darbą